要素評価　/　 LAT（ロット受入試験）　－　コンセプト

ベアダイの性能は唯一無二なものです。同じ製品群のものであっても、製造元が同じであっても、同じウェハーより切り出されていても、自然界における原子構成の違いにより、全く同じの電気性能のものは存在しません。しかし実際は性能の違いはごく僅かなものですので、チップの設計者や製造者が目標とする広大な電気テンプレートに影響を及ぼすほどではありません。製品の一貫性を保つためには、要素評価/ LATを実施されると良いかと思います。これは製品が特別な電気的な試験に満足するために品質保証を要求する際に必要となります。例えばミリタリー向けのアプリケーションというような厳しい環境下で正常な作動を要求される場合です。このような試験は機械的・電気的な信頼性を網羅し、そしてLATはある特定のバッチ（ディフュージョンロット）の半導体ベアダイが指定の作動範囲内を正常に作動することができるかどうかにより決まります。

要素評価　/　 LAT（ロット受入試験）　－　プロセス

LATを要求されますと、一般にDSCC (Defense Supply Center Columbus)のスペックが参照されます。これらのスペックは、LATの一部もしくは全ての要求から成り立っているものです。通常はMIL-PRF-38534で、Class HやClass K suffixが対象となり、エンドユーザーのアプリケーションによりLATのスペックタイプが決まります。

お客様ご要望のスペックでお見積りすることもできます。MILスペックやメーカーのデータシートで試験することもできます。またメーカー保証の設計パラメータの外部試験をもご要望いただけます。試験対象のデバイスがスペックを満足しないことを懸念した作業に着手することのないよう、Die Technologyのエンジニアが的確なアドバイスやご提案をいたします。

要素評価　/　 LAT（ロット受入試験）　－　能力

à　 Die Technology社は、専門知識と幅広い半導体デバイス試験ができる能力を持っています。製品とエンドユーザーのアプリケーション両者の知識を持っていますので、広範囲にわたる電気的試験をご提案することができます。

ダイ/ウェハーは+25OC から+125OCまで、パッケージ品は–70OCから+200OCまでの温度範囲の試験が可能です。

LAT/要素評価は、BS、CECC、MIL やスペースレベル試験で構成されるインダストリースタンダードと、公表されているメーカーのデータシートやお客様により指定されたスペックに満足するよう試験されます。

LATのご要求ごとにCTR（保証付き試験記録）と総合的な試験データを添付します。そのデータは電子フォーマット（CD）でも供給します。

トレーサビリティーはコンピュータ管理しておりますので、いつでも確認できるようになっています。

試験可能な製品群

アナログ機能品

• オペレーションアンプ、コンパレータ、バッファ

• ダイオード、トランジスタ（バイポーラ、接合型電界効果、MOS型電界効果タイプ）

• 高精度電圧リファレンス、電圧レギュレータ

• アナログスイッチ、マルチプレクサ

• アナログからデジタルコンバータ

• パワーマネジメントIC、PWM、スイッチモードコントローラ

• パワーMOSFET、パワーHEXFET

• トランジエント電圧サプレッサ

• ラインドライバー/レシーバ

• トライアック

デジタル機能品

• 標準機能、特殊機能

• 54/74 TTLロジックシリーズ

• 54/74CMOSロジックシリーズ

• CD4000 CMOSロジックシリーズ

• ラインドライバー

• デコーダ

• レベルトランスレータ

• デジタル・アナログ変換

• 低電圧　/　低パワーCMOS

• レベルシフタ　/　バッファ

• デコーダ　/　マルチプレクサ

メモリ

SRAM
シンクロナスDRAM
EPROM
EEPROM
フラッシュメモリ
ミックスドシグナル　/ 　ASIC
その他特別なご要望にお応えします

詳しくは日本の代理店までお問い合わせください。