We are an established high volume value added distributor in bare die semiconductors for the microelectronics component industry.

 

 

 

 

 
外観目視検査
 

外観検査 -コンセプト

製品はデリケートな性質であり、製造からダイシング、最終形態までにおける様々なストレスにより、個々のベアダイは不良製品を判別するために、ある程度までの外観検査が必要となります。表面処理された製品における不良は、通常製造段階もしくは、分離プロセスにおける好ましくない物理的な取扱に起因します。そのような不良の原因ははっきりしているように聞こえますけれども、製品の外観検査能力は、数多くの技能や訓練が積み重ねられた経験が必要となります。

Die Technologyのスタッフはハイレベルなトレーニングを含めた長期間の経験を持っております。検査の力量が高めることにより、必要な速度と正確性でダイのプロセスを順序良く確実にこなすことができます。様々な製品の性質や検査がありますので、注文で依頼される通常の外観検査について、不良を発見する検査員に100%見逃しがないことは必要最低限のことです。例えばMIL-STD-883 Condition Bで欠陥は見つけられないが、MIL-STD-883 Condition Aでは発見されるという状況があります。

 

外観検査 - プロセス

Die Technologyでの外観検査は、十分な能力を持ち承認されたものしか実施してはいけないこととなっています。通常100時間の強化トレーニングを受けなければなりません。検査員の能力は全員現在の能力状況をグレードで示されており、最終的には、複雑なデバイスを検査できることを目指しております。例えば、シンプルなトランジスタやダイオード検査の承認を得た後、何年かかけ、複雑なIC検査の承認を得るようになります。

Die Technology社の全製品は2種類の検査があり、1つは、不良品は良品に取り替えられ、良品がエンドコンテナに置かれた後に実施し、もう1つは一般に最終QC検査と呼ばれる最終確認で実施します。全製品に対して長期間の経験を持っている中堅の検査員により実施されます。Die Technology社は、新製品の需要に対応するため、整然とされた組織を確立し、長期間に渡り検査員を雇用することにより、てきぱきとした手際の良い外観検査の実施を維持しております。

 

外観検査 ― サービス内容

  • トランジスタ検査MIL-STD-750 Method 2072

  • ダイオード検査MIL-STD-750 Method 2073

  • 集積回路(IC)検査MIL-STD-883 Method 2020 Condition A, B

  • ESA SCCスペック検査

  • お客様ご要望の検査

 

ウェハー特殊検査
ダイリングホイルでのダイの供給が増加しますと、ハイブリッドアッセンブリ機械の導入が必要となってきます。ワッフルトレイで供給することが一般的でありますが、リングホイルでの供給は不可能なこととされてきました。Die Technology社はリングホイルの検査と外観不良のインク付において他とは異なったユニークなシステムを構築しております。特別なインクを使用すれば、ハイブリッドアッセンブリの段階で、ダイの発見システムが良品ダイのみを選別することが可能となります。

詳しくは日本の代理店までお問い合わせください。
 

Tel: +44(0)161 626 3827 Email: sales@ditech.co.uk Fax: +44(0)161 627 2341

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